第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-3101 UIL 雪崩測(cè)試
QT-3101 UIL 雪崩測(cè)試適用于測(cè)試 MOSFET、IGBT、二極管的雪崩參數(shù)
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支持雙DIE |
快速充電 |
失效波形保存 |
鉗壓功能 |
| 型號(hào) | QT-3101 UIL |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) |
? 支持 VDD ON(E=1/2L*I*I*BVDSS/(BVDSS-VDD))或VDD OFF(E=1/2*L*I*I) 測(cè)試 ? 可與 QT-4100B 共用一臺(tái)電腦，實(shí)現(xiàn)測(cè)試程序和數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理 ? 可設(shè)定單脈沖、多脈沖或者雙 MOSFET 測(cè)試 ? 輸出電流IDMAX 實(shí)時(shí)測(cè)量監(jiān)控和Energy讀取 ? 電感內(nèi)阻低，ID充電快，測(cè)試時(shí)間更短 ? 內(nèi)置示波器 |
| 主要特點(diǎn) |
? 支持RPF
? 晶圓測(cè)試爆珠保護(hù)
? 顯示實(shí)際測(cè)量的能量(mJ) ? 支持PVDROOP、PVCOLLAPSE測(cè)試 ? QT-UILM模組：ID電流輸出能力提升至400A，BVDSS電壓測(cè)量5KV |
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