第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-4100 綜合測試系統(tǒng)
適用於SiC /Si MOSFET、IGBT、二極體、三極管、可控矽、固態(tài)放電管、三端穩(wěn)壓、光耦等電性參數(shù)測試。 提供整套成熟測試方案，全面支持DC、EAS、RGCG、熱阻、SW開關(guān)特性、短路、TRR、QG等動靜態(tài)參數(shù)測試。 可實現(xiàn)多工站測試數(shù)據(jù)合併。
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限壓限流 |
高精度Rdon測試 |
模組化功能 |
多站資料合併 |
| 型號 | QT-4100 綜合測試系統(tǒng) |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢 |
一鍵校準(zhǔn)，開批自檢防呆 Low RDON最低測試0.2mR 限壓限流保護(hù) 填表式制程 支持?jǐn)U展EAS，LCR，熱阻， SW，TRR，QG 支持PAT功能 具備SECS/GEM標(biāo)準(zhǔn)介面 |
| 主要特點(diǎn) |
滿足SiC Mos/IGBT全參數(shù)測試流程，支持100%線上QA DC規(guī)格：2kV 200A，擴(kuò)展8kV 2kA AC規(guī)格：1500V 600A短路3000A雜散Ls<30nH，保護(hù)<300ns 國內(nèi)首家實現(xiàn)多工位合併數(shù)據(jù)，同時支持測試工位合併 行業(yè)內(nèi)公認(rèn)的標(biāo)準(zhǔn)測試解決方案 |
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