第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-DRM101000 氮化鎵動態(tài) RDON
適用於氮化鎵動態(tài)RDON參數(shù)測試。 可以跟QT-4100，QT-6000，QT-8000搭配組成測試方案
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支援硬切/軟切 |
支援電阻/電感負(fù)載 |
硬切<1us |
多重脈衝輸出 |
| 型號 | QT-DRM101000 |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢 |
QT-DRM101000適用於氮化鎵動態(tài)RDON參數(shù)測試。 可以跟QT-4100，QT-6000，QT-8000搭配組成測試方案 |
| 主要特點(diǎn) |
? 支援FT 或者CP，實(shí)驗(yàn)室，量產(chǎn)測試 ? 硬切和軟切，硬切可以滿足<1uS 測量RDON ? 輸出能力10A/1000V
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中國廣東省佛山市南海國家高新區(qū)新光源產(chǎn)業(yè)基地光明大道16號 |
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