第三代
半導體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
重力式分選機
適用TO-247、TO-220、TO-263、Tpak等封裝。 常高溫雙軌並測，比單軌效率提升80%。 動態(tài)測試Docking結(jié)構(gòu)雜訊低於30uH。 提供30°C~200°C可調(diào)高溫測試環(huán)境。
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懸浮電源 |
多Site串測 |
多通道高精度 |
支援多種擴展 |
| 型號 | 重力式分選機 |
| 產(chǎn)品介紹 |
適用TO-247、TO-220、TO-263、Tpak等封裝。 |
| 功能 |
? 常高溫雙軌並測，比單軌效率提高80%。 ? 動態(tài)測試Docking結(jié)構(gòu)雜訊低於30uH。 ? 提供30°C~200°C可調(diào)高溫測試環(huán)境。 |
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中國廣東省佛山市南海國家高新區(qū)新光源產(chǎn)業(yè)基地光明大道16號 |
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