第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
歡迎蒞臨SEMICON China 2015 聯(lián)動(dòng)展位
2015年3月17-19日，聯(lián)動(dòng)科技在為期三天的面向全球半導(dǎo)體同行的旗艦展會(huì)SEMICON上，向新老客戶展示了公司目前在半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)，半導(dǎo)體激光打標(biāo)設(shè)備，視像檢測(cè)系統(tǒng)類的最新產(chǎn)品，包括QT-8100模擬數(shù)字混合信號(hào)IC測(cè)試系統(tǒng)，QT-6106C測(cè)試模組，雪崩測(cè)試模組，RG/QG測(cè)試模組，獨(dú)立熱阻測(cè)試模組以及FIBER 脈沖分體式雙頭打標(biāo)設(shè)備和光纖分體式視像定位打標(biāo)設(shè)備。
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