第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
聯(lián)動科技成功參展SEMICON CHINA 2016
2016年3月15-17日，聯(lián)動科技在為期三天的面向全球半導(dǎo)體同行的旗艦展會SEMICON上，向新老客戶展示了公司目前在半導(dǎo)體IC集成電路和Discete測試系統(tǒng)，激光打標(biāo)系統(tǒng)和視像檢測系統(tǒng)類的最新產(chǎn)品。包括：QT-8200/8100模擬數(shù)字混合信號IC測試系統(tǒng)；QT-6166C1S高速測試系統(tǒng)（內(nèi)置LCR模組）；綜合測試平臺（RG/雪崩/熱阻/DC）；視像定位打標(biāo)機(jī)等。
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