第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
聯(lián)動(dòng)科技成功參展SEMICON CHINA 2017
2017年3月14-16日，由SEMI(國(guó)際半導(dǎo)體設(shè)備材料產(chǎn)業(yè)協(xié)會(huì))和中國(guó)電子商會(huì)(CECC)共同舉辦的全球規(guī)模最大、規(guī)格最高的半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)年度盛會(huì)SEMICON China 2017 國(guó)際半導(dǎo)體展在上海新國(guó)際博覽中心拉開(kāi)帷幕。聯(lián)動(dòng)科技向新老客戶展示了公司半導(dǎo)體IC集成電路和Discete測(cè)試系統(tǒng)(QT-8200/8100模擬數(shù)字混合信號(hào)IC測(cè)試系統(tǒng)、QT-6166C1S高速測(cè)試系統(tǒng)（內(nèi)置LCR模組）、綜合測(cè)試平臺(tái)等先進(jìn)設(shè)備)。
選擇我們的產(chǎn)品，為您的企業(yè)創(chuàng)造更大的價(jià)值。
|
中國(guó)廣東省佛山市南海國(guó)家高新區(qū)新光源產(chǎn)業(yè)基地光明大道16號(hào) |
|
0757 83207313 (銷售) |
|
0757 83208786 (銷售) |
|
info@powertechsemi.com |
佛山市聯(lián)動(dòng)科技股份有限公司 版權(quán)所有 powertechsemi.com ? 2015 | 隱私政策 | Sitemap 粵ICP備17127080號(hào)-1
