第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
聯(lián)動科技成功參展第五屆SEMI-e深圳國際半導(dǎo)體展
SEMI-e深圳國際半導(dǎo)體展于5月16-18日在深圳國際會展中心順利舉行。
公司展示了半導(dǎo)體IC測試系統(tǒng)、分立器件測試系統(tǒng)和激光打標(biāo)機系統(tǒng)的最新產(chǎn)品，包括：QT-8409PM IGBT SIC模塊動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)、數(shù)字模擬混合信號IC測試系統(tǒng)QT-8200(Direct Mount)、全自動激光打標(biāo)系統(tǒng)等先進(jìn)設(shè)備。
1、QT-8409PM IGBT SIC模塊動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)
2、數(shù)字模擬混合信號IC測試系統(tǒng)QT-8200(Direct Mount)
3、全自動激光打標(biāo)系統(tǒng)
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